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當(dāng)前位置：上海奧法美嘉生物科技有限公司>>Nicomp380 3000納米粒度儀>>Zeta電位與粒徑分析儀>> Nicomp3000 zeta電位儀Zeta電位與粒徑分析儀
Nicomp® 3000
納米激光粒度儀
動(dòng)態(tài)光散射儀
具有50+年歷史
專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
助您探索納米宇宙的精微奧秘！
0.9°步進(jìn)型多角度（MADLS）真正的多角度模塊
不同粒徑的納米粒子，尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長(zhǎng)的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下,，力度分布（PSD）會(huì)失去一些細(xì)節(jié)。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi),，步長(zhǎng)0.9°的多角度模塊,，對(duì)特殊樣品（如極小粒徑）可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè)，顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力,。
復(fù)用型直插靶電級(jí),，減少耗材成本
Zeta電位檢測(cè)模塊，采用雙列直插式靶電極,，清潔方便,，易于清洗，可以反復(fù)使用,。既保護(hù)了環(huán)境,，也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本。
專有的Nicomp®多峰分布,，可分辨1:2的多組分
Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法,，可以有效區(qū)分不同粒徑（1：2的不同組分）,，為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具。
（下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果）
高斯粒徑分布圖
Nicomp®多峰粒徑分布圖
自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,，減少試錯(cuò)成本和人工誤差
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,，既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差，更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作,，為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案,。
產(chǎn)品介紹
PRODUCT INTRODUCTION
Nicomp® Z3000納米粒度及ZETA電位分析儀
檢測(cè)范圍
粒徑檢測(cè)：0.3nm-10.0μm
Zeta電位：-500mV-+500mV
應(yīng)用領(lǐng)域
| 醫(yī)藥領(lǐng)域 | 蛋白、病毒,、脂質(zhì)體,、乳劑、膠束,、納米晶,、疫苗、納米載體,、細(xì)胞等 |
| 化工領(lǐng)域 | 墨水,、顏料、高分子材料,、化工染料,、潤(rùn)滑劑、石油化工,、量子等 |
| 半導(dǎo)體領(lǐng)域 | 光刻膠,、CMP slurry,、樹脂等 |
| 其他 | 食品,、飲料、化妝品等 |
MINI DLS在線納米激光粒度儀/在線動(dòng)態(tài)光散射儀
| 粒徑范圍 | 20nm-2μm* |
| 濃度 | 0.1-10wt% |
| 重復(fù)性 | ±5% |
| 檢測(cè)器 | PMT（光電倍增管） |
| 激光波長(zhǎng)精確性 | ±10% |
| 檢測(cè)角度 | 90° |
無需校準(zhǔn)
*hydrodynamic radius,，流體動(dòng)力學(xué)半徑
應(yīng)用領(lǐng)域
均質(zhì)機(jī)/研磨機(jī)下游的粒度控制
脂質(zhì)體和乳劑等納米制劑產(chǎn)品的生產(chǎn)監(jiān)控
CMP漿料（研磨液）的磨損監(jiān)控
納米先進(jìn)材料生產(chǎn)過程中粒度監(jiān)控
儀器原理
PRINCIPLE
動(dòng)態(tài)光散射方法(Dynamic Light Scattering)原理示意圖
Zeta電位工作原理示意圖
Zeta電位用于測(cè)試顆粒之間排斥力 ,，是判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段。
布朗運(yùn)動(dòng)的一個(gè)重要特點(diǎn)是：小粒子運(yùn)動(dòng)快速,，大顆粒運(yùn)動(dòng)緩慢,。由于粒子在不停地運(yùn)動(dòng)，散射光斑也將出現(xiàn)移動(dòng),。由于粒子四處運(yùn)動(dòng),，散射光的相位疊加，將引起光亮區(qū)域和黑暗區(qū)域呈光強(qiáng)方式增加和減少或以另一種方式表達(dá),，光強(qiáng)也成波動(dòng)形式,。即：粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)。
通過拉普拉斯逆轉(zhuǎn)換,，將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成指數(shù)光譜的形式進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,，將雜亂無章的波動(dòng)曲線轉(zhuǎn)換成有規(guī)則的自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線,。
通過自相關(guān)C(t)函數(shù)曲線得到衰變常數(shù)τ，通過下面公示得到擴(kuò)散系數(shù)D,；
1/τ= 2DK2 （K是散射光波矢量,，是一個(gè)常數(shù)）
最后在通過 Stokes-Einstein 方程，得到粒徑大小R:
公式中：
K = 玻爾茲曼常數(shù),；
T = 絕對(duì)溫度,；
h = 溶液的剪切粘度；
R = 粒子大小的半徑,；
D = 擴(kuò)散系數(shù),；
Nicomp® 3000系列設(shè)備檢測(cè)原理圖
Nicomp® 3000系列納米激光粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理檢測(cè)分析樣品的粒度分布?；诙嗥绽针娪竟馍⑸湓恚―oppler Electrophoretic Light Scattering,，ELS）檢測(cè)ZETA電位。其主要用于檢測(cè)納米級(jí)別及微米級(jí)別的體系,，粒徑檢測(cè)范圍0.3nm-10μm,，ZETA電位檢測(cè)范圍為±500mV。動(dòng)態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離,，關(guān)注瑞利散射區(qū)的小顆粒,，主要用于檢測(cè)納米級(jí)別的分散體系。動(dòng)態(tài)光散射是通過光強(qiáng)值的波動(dòng)得到自相關(guān)函數(shù),，從而獲得衰減時(shí)間常量τ,，進(jìn)而計(jì)算獲得粒子的擴(kuò)散速度D（Diffusion Coefficient，擴(kuò)散系數(shù)）,，代入Stokes-Einstein方程式,，就可以計(jì)算得到顆粒的半徑。
Zeta電勢(shì)電位測(cè)定：Nicomp® Z3000結(jié)合了動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（DLS）和電泳光散射法（ELS）,實(shí)現(xiàn)了同機(jī)測(cè)試亞微米粒子分布和ZETA電勢(shì)電位,。ELS是將電泳和光散射結(jié)合起來的一種新型光散射,，它的光散射理論基礎(chǔ)是準(zhǔn)彈性碰撞理論，在實(shí)驗(yàn)時(shí)通過在樣品槽中外加一個(gè)外電場(chǎng),，帶電粒子即會(huì)以固定速度向與帶電粒子電性相反的電極方向移動(dòng),，與之相應(yīng)的動(dòng)態(tài)光散射光譜產(chǎn)生多普勒漂移，這一漂移正比于帶電粒子的移動(dòng)速度,，因此由實(shí)驗(yàn)測(cè)得的譜線的漂移,，就可以求得帶電粒子的電泳速度，從而得到電位值,。通過測(cè)試顆粒之間的排斥力,，判斷體系穩(wěn)定性的測(cè)量手段之一。
相位分析法（PALS）:用相位（Phase）變化的分析取代原先頻譜的漂移，不僅使Zeta電位分析的精度及穩(wěn)定性有了顯著的提高,，而且突破了水相體系的限制,，對(duì)有機(jī)相體系同樣能提供Zeta電位的精確分析。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
PRODUCT HIGHLIGHT
0.9°步進(jìn)型多角度（MADLS）真正的多角度模塊
不同粒徑的納米粒子,，尤其是粒徑遠(yuǎn)小于激光波長(zhǎng)的粒子在傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論下,，力度分布（PSD）會(huì)失去一些細(xì)節(jié)。Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列開創(chuàng)性地配備了可以從14.4°-180°范圍內(nèi),，步長(zhǎng)0.9°的多角度模塊,，對(duì)特殊樣品（如極小粒徑）可以選用合適的角度進(jìn)行檢測(cè)，顯著提高對(duì)復(fù)雜體系的分辨力,。
專有的Nicomp®多峰分布,，可分辨1:2的多組分
Entegris（PSS）Nicomp® 3000系列搭載了Nicomp®多峰算法，可以有效區(qū)分不同粒徑（1：2的不同組分）,，為復(fù)雜體系和多組分體系提供了強(qiáng)有力的生產(chǎn)工具,。
（下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp®算法所呈現(xiàn)的結(jié)果）
高斯粒徑分布圖
Nicomp®多峰粒徑分布圖
超高分辨率的納米檢測(cè)精度
通過蛋白質(zhì)樣品的測(cè)試，Nicomp® 納米激光粒度儀對(duì)于小于10nm的粒子,，依然顯示超高的分辨率和準(zhǔn)確度,。Nicomp® 納米激光粒度儀的這種超高分辨率可以有效幫助研究人員更準(zhǔn)確更真實(shí)的檢測(cè)出樣品粒度分布。
如下圖,，蛋白質(zhì)單聚體的粒徑大小為1.7nm
蛋白質(zhì)雙聚體的理論粒徑大小為1.7nm的兩倍3.4nm,。Nicomp® 3000系列測(cè)得的結(jié)果為2.9nm左右。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小,。
針對(duì)更復(fù)雜的四聚體,，其理論粒徑為單聚體的4倍6.8nm。Nicomp® 3000系列測(cè)得的結(jié)果為5.7nm,。這個(gè)數(shù)值符合實(shí)際粒徑大小,。
將上述3個(gè)數(shù)據(jù)疊加，我們可以清晰地看到在10nm以下仍然能得到粒徑相差很小的3個(gè)峰,，顯示Nicomp® 3000系列儀器有超高的分辨率和靈敏度,。
自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,，減少試錯(cuò)成本和人工誤差
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列在動(dòng)態(tài)光散射法上應(yīng)用了自動(dòng)稀釋模塊和自動(dòng)進(jìn)樣模塊,，既可以有效避免人工稀釋所帶來的試錯(cuò)成本和誤差，更可以實(shí)現(xiàn)檢測(cè)的自動(dòng)化操作,，為大批量的檢測(cè)提供了良好的解決方案,。
Multiple sample trays available
3×7 samples-30mm tube（50mL）
4×10 samples-20mm tube（20mL）
5×12 samples-16mm tube（14mL）
6×15 samples-13mm tube（7mL）
復(fù)用型直插靶電級(jí)，減少耗材成本
Zeta電位檢測(cè)模塊,，采用雙列直插式靶電極,，清潔方便，易于清洗，可以反復(fù)使用,。既保護(hù)了環(huán)境,，也大大減少了使用一次性可丟棄的電極模塊的成本。
PMT&APD雙檢測(cè)器
Entegris（PSS）Nicomp® 3000 系列可以裝配高靈敏度的光電倍增管檢測(cè)器以及雪崩二極管檢測(cè)器,，相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7-10倍放大增益效果,。
軟件工作站
SOFTWARE WORKSTATION
全面的權(quán)限管理
靈活設(shè)置用戶管理權(quán)限，增加安全性,?？稍O(shè)置密碼復(fù)雜度，自動(dòng)登出時(shí)間,，密碼修改時(shí)限,，滿足CSV計(jì)算機(jī)系統(tǒng)驗(yàn)證。
1.用戶管理
2.允許編輯測(cè)樣方法
3.數(shù)據(jù)庫(kù)管理
4.鏈接驅(qū)動(dòng)
4.允許用戶用儀器測(cè)量樣品
5.對(duì)主機(jī)中固件更新（工程師權(quán)限）
6.密碼權(quán)限設(shè)置
7.可看,、輸出,、更改數(shù)據(jù)自動(dòng)備份位置
8.更改重新計(jì)算測(cè)試數(shù)據(jù)
9.導(dǎo)入曲線
10.曲線校準(zhǔn)（不對(duì)用戶開放）
11.增加減少報(bào)告模板
12.允許打印或?qū)С鰣?bào)告
13.刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)（僅軟件界面看不到，數(shù)據(jù)庫(kù)數(shù)據(jù)依然存在,，并可還原）
14. 刪除測(cè)樣數(shù)據(jù)
15. 刪除報(bào)告
16. 刪除文件
完整的審計(jì)追蹤
具備詳細(xì)的審計(jì)追蹤記錄,，支持日志導(dǎo)出打印，記錄用戶登錄期間所有操作,，可根據(jù)操作類型,、時(shí)間、項(xiàng)目等檢索,。
多種數(shù)據(jù)備份方式
數(shù)據(jù)備份支持手動(dòng),、自動(dòng)備份到文件路徑。備份內(nèi)容包含完整數(shù)據(jù)內(nèi)容,、操作方法,、審計(jì)追蹤記錄日志等。
軟件測(cè)試界面
簡(jiǎn)潔明了,，支持不同權(quán)重,，不同分析模型實(shí)時(shí)切換，可快速查詢不同指標(biāo),。
儀器參數(shù)
INSTRUMENT SPECIFICATION
| Nicomp® Z3000納米粒度及Zeta電位分析儀 | ||||
| 配置 | Standard | Pro | Plus | Ultimate |
| 溫度范圍 | 0°C~90°C(±0.1°C控溫精度,，無冷凝) | |||
| 激光光源 | 固體激光器 | |||
| 激光功率 | 15mW | 35mW | 35mW | 35mW |
| PH值范圍 | 1~14 | |||
| 粒度 | ||||
| 分析方法 | 動(dòng)態(tài)光散射，Gaussian分布和Nicomp多峰分布 | |||
| 檢測(cè)范圍 | 0.3nm~10μm | |||
| 最小樣品量 | 10μL | |||
| 最大濃度 | 40%w/v | |||
| 測(cè)量角度 | 90° | 90° | 多角度(14.4°~180°,包含90°,，步進(jìn)0.9°) | |
| 分子量 | 342-2*107 Da | |||
| ZETA電位 | ||||
| 分析方法 | 電泳光散射（ELS）,多普勒頻譜分析法/相位分析法 | |||
| 檢測(cè)范圍 | 0.3nm~10μm | |||
| 最小樣品量 | ±500mV | |||
| 最大濃度 | 40%w/v | |||
| 測(cè)量角度 | -14.9° | |||
| 分子量 | 342-2*107 Da | |||
| 附件 | ||||
| 檢測(cè)器 | PMT(光電倍增管) | PMT（光電倍增管）&APD（雪崩二極管） | ||
| 樣品池 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 科研版軟件 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 雙列直插式靶電極 | ■ | ■ | ■ | ■ |
| 21 CFR Part11軟件 | □ | □ | □ | □ |
| 多角度檢測(cè)模塊 | / | / | ■ | ■ |
| 自動(dòng)進(jìn)樣模塊 | / | / | / | ■ |
| 自動(dòng)稀釋模塊 | / | / | / | ■ |
| 尺寸 | 56cm*4lcm*24cm | |||
| 重量 | 約26kg（與配置相關(guān)） | |||
| 注：以實(shí)際樣品為準(zhǔn) | ■標(biāo)配,，隨箱自帶 | □選配，單獨(dú)購(gòu)買 | ||
